AE-381A 容量測試儀1MHz/1kHz/120Hz

  • 超高速:0.3msec.[1MHz]、1msec.[1kHz]、8.34msc.[120Hz](FAST測量中的時間)
  • 通過測量值異常檢知可得知2端子測量時探測頭接觸不良的情況
  • 可4端子接觸檢測
  • 測量頻率:1MHz/1kHz/120Hz±0.1%(正弦波)
  • 可BIN測量:C 14分類及Out of bin
  • 可在串聯等效電路和并聯等效電路之間切換
  • 定電壓測量(只適用部分量程)
  • 可DF測量[0.0000~0.5000]、Q測量[0~10000]
  • C測量:41/2位數(15000)數字顯示、內置比較器功能可HI/GO/LO輸出
  • RS-232C接口、打印機輸出(適合Centronics標準配備)(GP-IB選購)
  • 脈沖式測量電流以減少探測頭接觸的耗損
  • 即使在檢測中也可打印檢測值、統計值、日期、時間

下載產品文檔


測量范圍及基本精確度 (DF < 0.1周圍溫度23℃±5℃)

 
 

量程

測量范圍

分辨率

精確度[FAST測量時為下記精確度的2倍]

測量電壓[rms]

1MHz

1kHz

120Hz

1.5pF

0.0000pF~1.5000pF

0.0001pF

C:±1.0% of rdg±50dg以內

---

---

1V±5%

0.5V±5%

DF:0.01

DF:±0.005±0.0001×(Cr/Cx)以內

---

---

15pF

0.000pF~15.000pF

0.001pF

C:±0.25% of rdg±25dg以內

C:±0.25% of rdg±25dg以內

---

1V±5%

0.5V±5%

DF:0.01

DF:±0.002±0.0005×(Cr/Cx)以內

DF:±0.002±0.00025×(Cr/Cx)以內

---

150pF

0.00pF~150.00pF

0.01pF

C:±0.15% of rdg±10dg以內

C:±0.15% of rdg±10dg以內

---

1V±5%

0.5V±5%

DF:0.01

DF:±0.001±0.0001×(Cr/Cx)以內

DF:±0.001±0.0001×(Cr/Cx)以內

---

1.5nF

0.0pF~1500.0pF

0.1pF

C:±0.15% of rdg±10dg以內

C:±0.15% of rdg±10dg以內

---

1V±5%

0.5V±5%

DF:0.01

DF:±0.001±0.0001×(Cr/Cx)以內

DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以內

---

15nF

0.000nF~15.000nF

0.001nF

---

C:±0.15% of rdg±10dg以內

---

1V±5%

0.5V±5%

DF:0.01

---

DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以內

---

150nF

0.00nF~150.00nF

0.01nF

---

C:±0.15% of rdg±10dg以內

---

1V±5%

0.5V±5%

DF:0.01

---

DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以內

---

1.5μF

0.0nF~1500.0nF

0.1nF

---

C:±0.15% of rdg±10dg以內

C:±0.15% of rdg±10dg以內

1V±5%

0.5V±5%

DF:0.01

---

DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以內

DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以內

15μF

0.000μF~15.000μF

0.001μF

---

C:±0.3% of rdg±20dg以內

C:±0.15% of rdg±10dg以內

1V±5%

0.5V±5%

DF:0.01

---

DF:±0.001±0.0002×(Cr/Cx)以內

DF:±0.001±0.0002×(Cr/Cx)以內

150μF

0.00μF~150.00μF

0.01μF

---

C:±1% of rdg±50dg以內

C:±0.5% of rdg±25dg以內

1kHz:1V/0.5V+5%~-20%

120Hz:0.5V±5%

DF:0.01

---

DF:±0.005±0.0005×(Cr/Cx)以內

DF:±0.003±0.0005×(Cr/Cx)以內

1.5mF

0.0μF~1500.0μF

0.1μF

---

---

C:±1.5% of rdg±50dg以內

120Hz/0.5V+5%~-25%

DF:0.01

---

---

DF:±0.01±0.001×(Cr/Cx)以內


※測量電壓為0.5V情況時上記精確度則為2倍

 

 

測量方式

5端子[3端子]測量方式

測量頻率

1MHz/1kHz/120Hz±0.1%、正弦波

測量信號輸出阻抗

約2Ω

寄生電容修正范圍

約20pF

溫  度  系   數

±100ppm/℃以內

測量時間

【空轉周期】FAST:約1~5次/秒 SLOW:FAST×N(N:平均值設定次數)

【啟動觸發信號】FAST:0.3msec.[1MHz]、1msec.[1kHz]、8.34msec.[120Hz]、

測量范圍

Capacitance:0~15000  DF:0.0000~0.5000 Q:0~10000

BIN測量

C:14分類及Out of bin

周圍使用環境

溫度:0℃~+50℃、 濕度:85%以下

所需電源

AC85V~265V、50~60Hz、約50VA

外形尺寸

250(W)×99(H)×300(D)mm(不含底部橡膠等突起部分)

重量

約3.5kg

廣州 雙成電子有限公司

廣州市番禺區東環街番禺大道北537號番禺節能科技園內番山創業中心1號樓3區703號之二

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